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PA-Micro

       PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的第一选择

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       PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的第一选择

  PA-Micro

主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。
  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域:

  • 通信光纤
  • 晶体
  • 医学细胞

技术参数:

    项次

           项目            

具体参数

1

输出项目

          相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

2

测量波长

520nm

3

双折射测量范围

0-130nm

4

测量最小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

视野尺寸

142x170um3.5x4.2mm
(×2×5×10×20×50)

7

选配镜头视野

8

选配功能    

            实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


测量案例: 

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