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KAMAKIRI W

        Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。

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        Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。

KAMAKIRI W


主要特点:

  • 适用于薄膜等生产线上,实现各个环节的双折射测量
  • LIVE实时输出双折射的信息
  • OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报
  • 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布
  • 实时记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。
  • 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 

应用领域:

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC
  • 保护薄膜(PET/PEN/PS/PI
  • 树脂成型
  • 玻璃 

术参数:   

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】

2

测量波长

520nm

3

双折射测量范围

0-130nm/0-260nm(选配)

4

主轴方位范围

0-180°

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

测量宽度尺寸

350mm

7

宽度方向测量点

2560




















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项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°


2

测量波长

520nm


3

双折射测量范围

0-130nm/0-260nm(选配)


4

主轴方位范围

0-180°


5

测量重复精度

<1nm(西格玛)


6

测量宽度尺寸

350mm


7

宽度方向测量点

2560


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