Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
KAMAKIRI W
主要特点：
- 适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量
- LIVE实时输出双折射的信息
- OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报
- 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布
- 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
- 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。
应用领域：
- 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
- 保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
- 树脂成型
- 玻璃
技术参数:
|
项次 |
项目 |
具体参数 |
|
1 |
输出项目 |
相位差【nm】，轴方向【°】 |
|
2 |
测量波长 |
520nm |
|
3 |
双折射测量范围 |
0-130nm/0-260nm(选配) |
|
4 |
主轴方位范围 |
0-180° |
|
5 |
测量重复精度 |
<1nm（西格玛） |
|
6 |
测量宽度尺寸 |
350mm |
|
7 |
宽度方向测量点 |
2560 |
请咨询我们，010-6979 8892 sales@oelectron.com
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项目 |
具体参数 |
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输出项目 |
相位差【nm】，轴方向【°】 |
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测量波长 |
520nm |
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双折射测量范围 |
0-130nm/0-260nm(选配) |
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4 |
主轴方位范围 |
0-180° |
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测量重复精度 |
<1nm（西格玛） |
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测量宽度尺寸 |
350mm |
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宽度方向测量点 |
2560 |
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